可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光 小王子 晶圆 卤素光源 装置

可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上$n是一种用于宏观观察的照明装置$n高亮度卤素射镜 $nYAMADA山田光学 聚光灯卤素 光源 强光灯

可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 聚光灯 晶圆 卤素 光源装置

可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 聚光式 晶圆 目视 检查 灯

可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 小王子 聚光灯 检查灯