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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上是一种用于宏观观察的照明装置高亮度卤素射镜 日本表面检查灯 小王子 碳化硅 抛光 晶圆
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日本表面检查灯 小王子 碳化硅 抛光 晶圆
日本表面检查灯 小王子 碳化硅 抛光 晶圆
是宏観観察用的照明設備,可検測各種缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。
1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源灯的光源,具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
YP-150I・・・照度範囲 φ30
YP-250I・・・照度範囲 φ60
(YP-250I的通風機可選択螺旋式風扇或管道通風機形)
特点
日本YAMADA山田光学YP-150I卤素光源装置
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上,是一种用于宏观观察的照明装置
高亮度卤素射镜
照射范围 30mmφ 60mmφ
照度 ≥ 400,000 lx ←
照射距离 140mm 220mm
光源 卤素灯(使用冷镜) ←
灯型 JCR15V150W ELC24V250W
寿命 5W小时
色温 3,400K° ←
色调 白 ←
环境温度 0~40℃ ←
冷却方式 强制排气 ←
连接 12φ 20φ
尺寸 100(W)×245(H)×116(D)mm 120(W)×388(H)×130(D)mm
重量 1.7 ㎏(17N) 2.7 ㎏(27N)
输入电压 AC100V 50/60Hz AC100V 50/60Hz
功率 200W 350W
变化范围 AC5~12V AC10~22V
环境温度 0~40℃ ←
冷却方式 自然 强制排气
尺寸 140(W)×94(H)×185(D)mm 135(W)×72(H)×260(D)mm
重量 2.4 ㎏ 2 ㎏
其他 输入电线 :2m VCTF-电线 0.75sq
(外加一插座)
输出电线 :2m VCTF-电线 1.25sq
(外加一金属连接器)
脚踏开关线:3m
(底部金属连接器) 输入电线 :2m VCTF-电线 0.75sq
(外加一插座)
输出电线 :2m VCTF-电线 1.25sq
(外加一金属连接器)<span none"="">
日本山田光学YP-150I/250I高亮度卤素射镜
日本山田光学YP-150I/250I高亮度卤素射镜
山田光学YP-250I
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